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Volumen 15 N° 2, Mayo - Agosto 2007

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Capacidad del test basado en análisis de transitorio para detectar fallas paramétricas

José Peralta1   Gabriela Peretti1   Eduardo Romero1,2   Carlos Marqués2

1 Grupo de Investigación y Servicios en Electrónica y Control. Facultad Regional Villa María. Universidad Tecnológica Nacional. Avda . Universidad 450, (5900) Villa María. Argentina. E-mail: gisec@frvm.utn.edu.ar

2 Grupo de Desarrollo Electrónico e Instrumental. Facultad de Matemática, Astronomía y Física, Universidad Nacional de Córdoba. Medina Allende y Haya de Torre, (5000). Córdoba, Argentina. E-mail: marques@famaf.unc.edu.ar


RESUMEN

En este trabajo se evalúa la capacidad de la estrategia de test denominada Método de Análisis de Transitorio para la detección de fallas paramétricas . Estas fallas son definidas como violaciones en las especificaciones de un circuito debido a desviaciones estadísticas en los componentes. Consecuentemente, el circuito es declarado como defectuoso si al menos una de las especificaciones está más allá de los límites tolerables. Un filtro de segundo orden se adopta como caso de estudio para la realización de las evaluaciones propuestas. Las especificaciones son establecidas sobre los parámetros de desempeño y los atributos de test son el tiempo de pico y la sobre elongación de la respuesta transitoria.

Para determinar la calidad del test , son generadas 8 poblaciones de 1.000 individuos. Cada individuo es obtenido asignando un valor aleatorio para sus componentes. Las poblaciones son obtenidas mediante el incremento de la variabilidad de los componentes, desde 3% hasta 10% en pasos de 1%. La evaluación concurrente de las especificaciones y de los parámetros de test permite establecer las métricas utilizadas para calificar al test. Los resultados de simulación permiten concluir que mediante la medición de los atributos de test propuestos es posible lograr un alto número de buenas decisiones de test . Adicionalmente, es posible observar que la capacidad de detección de circuitos buenos es también elevada. A pesar de estos hechos, el número de circuitos defectuosos que pasan el test podría ser inaceptable para aplicaciones que demanden una alta cobertura de fallas.

Palabras clave: Test de circuitos analógicos, método de análisis transitorio, detección de fallas paramétricas , detección de fallas de desviación.



ABSTRACT

In this work, the ability of the test strategy named Transient Analysis Method for detecting parametric faults is evaluated. These faults are defined as violations in the circuit specifications due to statistical deviations in the components. Consequently, a circuit is declared as faulty if at least one of the specifications is beyond the tolerable limits. A second order filter is adopted as a case study for performing the proposed evaluations. The specifications are established on performance parameters, and the test attributes are the peak time and the overshoot of the filter transient response.

In order to determine the test quality, 8 populations of 1.000 individuals are generated. Each individual is obtained by assigning a random value for its components. The populations are obtained by increasing the component variability from 3% up to 10% of their nominal values, in steps of 1%. The concurrent evaluation of the specifications and the test parameters allow establishing the metrics used for qualifying the test. The simulation results allow concluding that by the measuring of the proposed test attributes it is possible to achieve a high number of good test decisions. Additionally, it is possible to observe that the ability for detecting good circuits is also high. Despite these facts, the number of bad circuits passing the test could be unacceptable for applications demanding high fault coverage.

Keywords: Analog circuits test, transient analysis method, parametric fault detection, deviation fault detection.


 

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